НИИИН представил оборудование НК на выставке в Шанхае
С 30 октября по 1 ноября 2024 года сотрудники Научно-Исследовательского Института Интроскопии (НИИИН) приняли участие в международной выставке «Контроль качества и оборудование для контроля» (China International Exhibition on Quality & Testing Equipment), которая прошла в выставочном зале всемирного торгового центра в Шанхае, Китай. Это ключевое событие для профессионалов отрасли, в рамках которого свои разработки представили ведущие мировые производители оборудования и технологий неразрушающего контроля.
НИИИН представил оборудование НК на стенде партнёра Jining Luke Electronic Equipment Co., LTD., известного производителя решений для неразрушающего контроля. На стенде специалисты Института продемонстрировали приборы, специально адаптированные для китайского рынка:
· дефектоскоп вихретоковый ВД-90НП;
· структуроскоп магнитный МС-10;
· универсальный Шаблон специалиста НК TapiRUS.
Представленное на стенде оборудование вызвало значительный интерес у посетителей выставки.
В рамках выставки была проведена научная конференция, на которой профессионалы отрасли получили уникальную возможность поделиться своими идеями. Коммерческий директор Владимир Владимирович Михнович и директор по развитию НИИИН Сергей Евгеньевич Жаринов обсудили возможности сотрудничества и текущие проекты с китайскими коллегами.
Коммерческий директор Владимир Владимирович Михнович так прокомментировал участие в выставке: «Участие Института Интроскопии в международной выставке в Шанхае — это стратегический шаг для НИИИН. Мы не только представили свои передовые разработки, но и наладили ценные деловые связи с китайскими коллегами. Это взаимодействие открывает нам новые горизонты для сотрудничества и обмена опытом».
В рамках визита директор по развитию Сергей Евгеньевич Жаринов и руководитель отдела перспективных разработок, д.т.н., академик АЭН РФ Андрей Евгеньевич Шубочкин провели обучение для китайских партнеров, сделав акцент на практических аспектах эксплуатации и обслуживании оборудования Института Интроскопии.
Участие НИИИН в выставке стало важным шагом на пути к расширению сотрудничества с китайскими и международными партнерами. Выставка, объединившая более 150 компаний и привлекшая свыше 5000 специалистов, стала эффективной площадкой для обмена опытом и демонстрации современных технологий.
Международная выставка «Контроль качества и Оборудование для контроля», впервые прошедшая в 1995 году, зарекомендовала себя как крупнейшая и авторитетная платформа для специалистов в области технической диагностики и неразрушающего контроля.
Больше новостей по теме:
Сотрудники НИИИН приняли участие в российско-китайской конференции по неразрушающему контролю
Взгляд в будущее: цифровая трансформация неразрушающего контроля
Удобно читать новости в Telegram-канале Научно-Исследовательского Института Интроскопии. Переходите по ссылке и подписывайтесь на канал.
